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        可編程高低溫箱的使用方法

        更新時間:2023-06-21  |  點擊率:1140
        可編程高低溫箱模擬了自然環(huán)境中的高溫和低溫,主要用于電工、電子產(chǎn)品及其元件和其他材料在高溫、低溫綜合環(huán)境中輸送、使用的適應性試驗。適用于產(chǎn)品的設計、改良、鑒定、檢驗等過程。所以可編程高低溫試驗箱在實際工作中被廣泛應用。其使用縮短了人們對某些產(chǎn)品性能的測試時間。

        (1)歸一化處理

        將試驗樣品統(tǒng)一歸納放置到正常的試驗氣體當中,直到超出相應的溫度穩(wěn)定后。

        (2)初始檢測

        可編程高低溫箱破壞性環(huán)境試驗箱試驗試驗整個過程:

        1、將要求的試驗樣品放到試驗箱內(nèi),并將環(huán)境試驗箱(室)內(nèi)溫度升到70,保持1h或者直至試驗樣品超出溫度穩(wěn)定,以時間長都算起。

        2、高溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55的低溫試驗箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品超出溫度穩(wěn)定,以時間長都算起。

        3、低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70的可編程高低溫箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品超出溫度穩(wěn)定,以時間長都算起。

        4、不斷上述實驗方法,開展3個循環(huán)周期。(注:對大的或重的試驗樣品,從1個環(huán)境試驗箱轉(zhuǎn)換到此外環(huán)境試驗箱的轉(zhuǎn)換時間,由有關標準或相關文本文檔規(guī)定)。

        5、試驗結(jié)束后是將被測試驗樣品恢復

        試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后,應在一切正常的試驗氣體規(guī)范下進行恢復,直至試驗樣品超出溫度穩(wěn)定。 

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